HIOKI日置

阻抗分析仪 IM7587日本HIOKI日置阻抗分析仪

基本规格 精度保证:1年测量模式LCR模式、分析仪模式(以测量频率和测量电平进行扫描)、连续测量模式测量参数Z、Y、θ、Rs (ESR)、Rp、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D (tanδ)、Q可测量范围100mΩ至5kΩ显示范围Z:0.00 m ~ 9.99999 GΩ / Rs、Rp、X:±(0.00 m ~ 9.99999 GΩ)Ls、Lp:±(0.00000 n ~ 9.99999

基本规格

精度保证:1年
测量模式LCR模式、分析仪模式(以测量频率和测量电平进行扫描)、连续测量模式
测量参数Z、Y、θ、Rs (ESR)、Rp、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D (tanδ)、Q
可测量范围100mΩ至5kΩ
显示范围Z:0.00 m ~ 9.99999 GΩ / Rs、Rp、X:±(0.00 m ~ 9.99999 GΩ)
Ls、Lp:±(0.00000 n ~ 9.99999 GH)/Q:±(0.00 ~ 9999.99)
θ:±(0.000° ~ 180.000°), Cs, Cp: ± (0.00000 p 至 9.99999 GF)
D: ± (0.00000 至 9.99999), Y: (0.000 n 至 9.99999 GS)
G, B: ± (0.000 n 至 9.99999 GS), Δ%: ±(0.000% 至 999.999%)
基本精度Z:±0.65 % 读数 θ:±0.38°
测量频率1 MHz 至 3 GHz(100 kHz 设置分辨率)
测量信号电平功率:-40.0 dBm 至 +1.0 dBm
电压:4 mV 至 502 mVrms
电流:0.09 mA 至 10.04 mArms
输出阻抗50 Ω(10 MHz 时)
展示8.4英寸彩色TFT触摸屏
测量速度FAST:0.5 ms(模拟测量时间,典型值)
功能接触检查、比较器、BIN测量(分类)、面板加载/保存、存储功能、等效电路分析、相关补偿
接口EXT I/O(处理程序)、USB 通信、USB 存储器、LAN、RS-232C(可选)、GP-IB(可选)
电源100 至 240 V 交流电,50/60 Hz,最大 70 VA
尺寸和质量主机:215 毫米(8.46 英寸)宽 × 200 毫米(7.87 英寸)高 × 348 毫米(13.70 英寸)深,8.0 千克(282.2 盎司) 测试头:90 毫米(3.54 英寸)宽 × 64 毫米(2.52 英寸
)高 × 24 毫米(0.94 英寸)深,300 克(10.58 盎司)
随附配件测试头×1、连接电缆×1、使用说明书×1、LCR应用光盘(通信用户手册)×1、电源线×1
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