阻抗分析仪 IM7585日本HIOKI日置阻抗分析仪
基本规格精度保证:1年测量模式LCR模式、分析仪模式(以测量频率和测量电平进行扫描)、连续测量模式测量参数Z、Y、θ、Rs (ESR)、Rp、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D (tanδ)、Q可测量范围100mΩ至5kΩ显示范围Z:0.00 m ~ 9.99999 GΩ / Rs、Rp、X:±(0.00 m ~ 9.99999 GΩ)Ls、Lp:±(0.00000 n ~ 9.99999 G
基本规格精度保证:1年测量模式LCR模式、分析仪模式(以测量频率和测量电平进行扫描)、连续测量模式测量参数Z、Y、θ、Rs (ESR)、Rp、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D (tanδ)、Q可测量范围100mΩ至5kΩ显示范围Z:0.00 m ~ 9.99999 GΩ / Rs、Rp、X:±(0.00 m ~ 9.99999 GΩ)Ls、Lp:±(0.00000 n ~ 9.99999 G
测量模式 | LCR模式、分析仪模式(以测量频率和测量电平进行扫描)、连续测量模式 | |||||
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测量参数 | Z、Y、θ、Rs (ESR)、Rp、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D (tanδ)、Q | |||||
可测量范围 | 100mΩ至5kΩ | |||||
显示范围 | Z:0.00 m ~ 9.99999 GΩ / Rs、Rp、X:±(0.00 m ~ 9.99999 GΩ) Ls、Lp:±(0.00000 n ~ 9.99999 GH)/Q:±(0.00 ~ 9999.99) θ:±(0.000° ~ 180.000°), Cs, Cp: ± (0.00000 p 至 9.99999 GF) D: ± (0.00000 至 9.99999), Y: (0.000 n 至 9.99999 GS) G, B: ± (0.000 n 至 9.99999 GS), Δ%: ±(0.000% 至 999.999%) | |||||
基本精度 | Z:±0.65 % 读数 θ:±0.38° | |||||
测量频率 | 1 MHz 至 1.3 GHz(100 kHz 设置分辨率) | |||||
测量信号电平 | 功率:-40.0 dBm 至 +1.0 dBm 电压:4 mV 至 502 mVrms 电流:0.09 mA 至 10.04 mArms | |||||
输出阻抗 | 50 Ω(10 MHz 时) | |||||
展示 | 8.4英寸彩色TFT触摸屏 | |||||
测量速度 | FAST:0.5 ms(模拟测量时间,典型值) | |||||
功能 | 接触检查、比较器、BIN测量(分类)、面板加载/保存、存储功能、等效电路分析、相关补偿 | |||||
接口 | EXT I/O(处理程序)、USB 通信、USB 存储器、LAN、RS-232C(可选)、GP-IB(可选) | |||||
电源 | 100 至 240 V 交流电,50/60 Hz,最大 70 VA | |||||
尺寸和质量 | 主机:215 毫米(8.46 英寸)宽 × 200 毫米(7.87 英寸)高 × 348 毫米(13.70 英寸)深,8.0 千克(282.2 盎司) 测试头:90 毫米(3.54 英寸)宽 × 64 毫米(2.52 英寸 )高 × 24 毫米(0.94 英寸)深,300 克(10.58 盎司) | |||||
随附配件 | 测试头×1、连接电缆×1、使用说明书×1、LCR应用光盘(通信用户手册)×1、电源线×1 |