阻抗分析仪 IM3570日本HIOKI日置阻抗分析仪
基本规格精度保证:1年测量模式LCR模式、分析仪模式(以测量频率和测量电平进行扫描)、连续测量模式测量参数Z、Y、θ、Rs(ESR)、Rp、Rdc(直流电阻)、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D(tanδ)、Q测量范围100 mΩ 至 100 MΩ,12 个量程(所有参数均根据 Z 确定)显示范围Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp:±(0.000000[单位]~9.
基本规格精度保证:1年测量模式LCR模式、分析仪模式(以测量频率和测量电平进行扫描)、连续测量模式测量参数Z、Y、θ、Rs(ESR)、Rp、Rdc(直流电阻)、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D(tanδ)、Q测量范围100 mΩ 至 100 MΩ,12 个量程(所有参数均根据 Z 确定)显示范围Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp:±(0.000000[单位]~9.
测量模式 | LCR模式、分析仪模式(以测量频率和测量电平进行扫描)、连续测量模式 | |||||
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测量参数 | Z、Y、θ、Rs(ESR)、Rp、Rdc(直流电阻)、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D(tanδ)、 Q | |||||
测量范围 | 100 mΩ 至 100 MΩ,12 个量程(所有参数均根据 Z 确定) | |||||
显示范围 | Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp:±( 0.000000[单位]~9.999999G[单位],仅显示 Z 和 Y 的绝对值 θ:±(0.000 ° ~ 180.000°), D : ±(0.000000 ~ 9.999999) Q : ±(0.00 ~ 99999.99), Δ% : ±(0.0000% ~ 999.9999%) | |||||
基本精度 | Z ±0.08% 读数 θ:±0.05° | |||||
测量频率 | 4 Hz 至 5 MHz(5 位设置分辨率,最小分辨率 10 mHz) | |||||
测量信号电平 | 正常模式: V 模式/CV 模式:5 mV 至 5 Vrms(高达 1 MHz) 10 mV 至 1 Vrms(1.0001 MHz 至 5 MHz),1 mVrms 步长 CC 模式:10 μA 至 50 mArms(高达 1 MHz) 10 μA 至 10 mArms(1.0001 MHz 至 5 MHz),10 μArms 步长 低阻抗高精度模式: V 模式/CV 模式:5 mV 至 1 Vrms(高达 100 kHz),1 mVrms 步长 CC 模式:10 μA 至 100 mArms(100 mΩ 和 1Ω 范围,最高 100 kHz),10 μArms 步长 | |||||
输出阻抗 | 正常模式:100 Ω,低阻抗高精度模式:10 Ω | |||||
展示 | 5.7英寸彩色TFT,显示可设置ON/OFF | |||||
测量时间 | 0.5 ms(100 kHz、FAST、显示关闭、代表值) | |||||
功能 | DC偏置测量、比较器、BIN测量(分类)、面板加载/保存、记忆功能 | |||||
接口 | EXT I/O(处理程序)、RS-232C、GP-IB、USB 通信、USB 存储器、LAN | |||||
电源 | 90 至 264 V 交流电,50/60 Hz,最大 150 VA | |||||
尺寸和质量 | 330 毫米(12.99 英寸)宽 × 119 毫米(4.69 英寸)高 × 307 毫米(12.09 英寸)深,5.8 千克(204.6 盎司) | |||||
随附配件 | 电源线×1、使用说明书×1、PC通信使用说明书(CD-R)×1 |