N3000纳米激光粒度仪
Nicomp动态光散射（DLS）系统可检测0.3 nm到10μm的粒度分布及zeta电位。Nicomp 系统搭载着Nicomp 多峰算法，解决了复杂体系样本颗粒分布检测的难题。它可以将一个次峰从主峰的尾巴中分离出来，帮助研究人员确定样本主要成分的颗粒度大小。当尝试开发新材料时，这是一个至关重要的参数，这将很大程度上影响产品的最终性能。工作原理Nicomp 3000 系列纳米激光粒度仪采用动态光散射
Nicomp动态光散射（DLS）系统可检测0.3 nm到10μm的粒度分布及zeta电位。Nicomp 系统搭载着Nicomp 多峰算法，解决了复杂体系样本颗粒分布检测的难题。它可以将一个次峰从主峰的尾巴中分离出来，帮助研究人员确定样本主要成分的颗粒度大小。当尝试开发新材料时，这是一个至关重要的参数，这将很大程度上影响产品的最终性能。
工作原理
Nicomp 3000 系列纳米激光粒度仪采用动态光散射原理检测分析样品的粒度分布。基于多普勒电泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering，DELS）检测ZETA电位。其主要用于检测额纳米级别及亚微米级别的体系，粒径检测范围0.3nm-10μm，ZETA电位检测范围为+/-500mV。动态光散射方法（DLS）从传统的光散射理论中分离，关注光强随着时间的波动行为。我们通过光强值的波动得到自相关函数，从而获得衰减时间常量 T，根据公式换算获得粒子的扩散速度 D（Diffusion，扩散系数）
Stokes-Einstein方程∶ D=kT/6rnR D=扩散系数 T=温度 R=粒子半径 η=粘度 k=玻尔兹曼常数 |
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粒径检测原理图 | |
Zeta电位的检测时，在样品插入电极，施加电压，根据样品中电荷的迁移方向确认电荷正负性，根据迁移速率确认Zeta电位绝对值。Nicomp Z3000设备集成两种Zeta电位算法：频谱分析法和相位分析法。相位分析法在很大程度上解决了频谱分析仪在高盐体系，有机相体系检测中的局限性，PSS也是首家将相位分析法应用于Zeta电位检测。
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Zeta电位检测原理图 |
应用
医药领域：蛋白、病毒、脂质体、乳剂、胶束、纳米晶、疫苗、纳米载药、细胞等
化工领域：墨水，颜料，高分子材料，化工染料，润滑剂，石油化工，量子点等；
半导体领域：光刻胶、CMP slurry、树脂等；
其他：食品，饮料，化妆品等；
| Nicomp N3000纳米粒度分析仪 | |||
| 配置 | Standard 标准版 | Plus 高配版 | Plus+ 顶配版 |
| 温度范围 | 0℃~90℃（±0.1℃控温精度，无冷凝） | ||
| 标准激光 | 15mW激光光源 | 35mW激光光源 | 15mW激光光源 |
| PH值范围 | 1~14 | ||
| 粒度 | |||
| 分析方法 | 动态光散射，Gaussian分布和Nicomp多峰分布 | ||
| 检测范围 | 3nm~10μm | ||
| 最小样品量 | 10μL | ||
| 最大浓度 | 40%W/V | ||
| 测量角度 | 90° | 90° | 90° |
| 分子量 | 342-2*107 Da | ||
| 附件 | |||
| 检测器 | PMT（光电倍增管） | APD（雪崩二极管） | PMT（光电倍增管） |
| 样品池 | ■ | ■ | ■ |
| 科研级软件 | ■ | ■ | ■ |
| 21 CFR Part11软件 | □ | □ | □ |
| 自动进样模块 | / | / | ■ |
| 自动稀释模块 | / | / | ■ |
| 磁力搅拌模块 | / | / | □ |
| 尺寸 | 56cm*4lcm*24cm | ||
| 重量 | 约26kg（与配置相关） | ||
| 注：以实际样品为准 | ■标配，随箱自带 | □选配，单独购买 | |