美国Defelsko PosiTector 6000 NAS3 涂层测厚仪 铝基氧化膜专用
专用于铝基氧化膜厚度测量,0~625μm量程,25w数据存储,触摸操作,支持蓝牙通讯,主机兼容多种不同探头。
专用于铝基氧化膜厚度测量,0~625μm量程,25w数据存储,触摸操作,支持蓝牙通讯,主机兼容多种不同探头。
型号 | PosiTector 6000 NAS3 |
测量原理 | 电涡流 |
测量范围 | 0~625μm |
误差范围 | ±3% |
分辨率 | 0.1μm |
探头 | NAS3探头(测量氧化铝膜) |
统计功能 | 测量次数、最大值、最小值、平均值、标准偏差 |
图示功能 | 有 |
电源 | 3*AAA碱性电池 |
满足标准 | ISO 2178/2360/2808、PrEN ISO 19840、ASTM B499/D1186/D1400/D7091/E376/G12、BS3900-C5、SSPC-PA2等 |
校准证书 | 有 |
系统语言 | 中文、英文 |
显示屏幕 | 2.8英寸彩色触摸屏 |
数据接口 | USB、Bluetooth |
配套软件 | PosiSoft软件套件 |
整机重量 | 137g(不含电池) |
整机尺寸 | 127*66*25.4mm |
数据存储 | 250000个测量值,1000个分组 |
测试环境 | 非铁质金属底材 非导电涂层环境 |
Defelsko校准标准 | STDS2、STDA2 |
屏幕图像保存 | 100个 |
防护等级 | IP65 |
测量速度 | 每分钟180多个读数 |
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